Static Tester

Leckstrommessung mit pA-Auflösung

ZTH / RTH standardmäßig enthalten

Kundenspezifischer Multiplexer

Unsere flexiblen statischen Tester bieten hochpräzise Messungen immer inclusive ZTH/RTH

Der statische Tester misst jeden Parameter gegen den vorgegebenen Grenzwerte und meldet jeden Fehler sofort, sodass fehlerhafte Teile erkannt und aussortiert werden können, bevor das Bauteil die Linie verlässt.

IGBT-Tester

Misst mit einem Multiplexer alle Parameter bzw. IGBTs des Modules.

- Kontaktprüfung
- VSD-Diode
- VCE / VCE_SAT
- I_CES / DI_CES (vorwärts/rückwärts) mit Leckstromkompensation
- I_GES / DI_GES
- VGS_TH
- ZTH und ZTH-Schleife
- Kapazität
- Widerstand
. . . .

Verfügbar mit einem einfachen Labor-Handlingsystem oder in ein vollautomatisches Handlingsystem integrierbar.

FET-Tester

Misst mit einem Multiplexer alle Parameter von FET-Chips oder -Modulen auf Si-/SiC-/GaN-Basis.

- Kontaktprüfung
- VSD-Diode
- BV_DSS
- I_DSS / DI_DSS (vorwärts/rückwärts) mit Leckstromkompensation
- I_GSS / DI_GSS
- VGS_TH
- RDS_ON
- ZTH und ZTH-Schleife
- Kapazität & Widerstand
- Integrierter Doppelpuls- und Avalanche-Test für Niederspannungschips
. . . .

Verfügbar mit einem einfachen Labor-Handlingsystem oder in ein vollautomatisches Handlingsystem integrierbar.

Einzeldioden-Tester

Misst alle Parameter einzelner Leistungsdioden

- Kontaktprüfung
- Vz (temperaturkompensiert)
- IR / DIR mit Leck- und Temperaturkompensation
- Vf (mA), Vf (Leistung)
- dVf (ZTH)
. . . .

Verfügbar mit einem Handlingsystem: Bunker, Zuführung, Drahtrichtstation, Schneiden und Längenmessung, Markierung sowie Gut-/Schlecht-Sortierung.

Gleichrichter-Tester

Misst mit einem Multiplexer alle Parameter der Leistungsdioden für eine schnellere Taktzeit und zuverlässige Messung

- Kontaktprüfung
- Vz (temperaturkompensiert)
- IR / DIR mit Leck- und Temperaturkompensation
- Vf (mA)
- Chipfaktor
- dVf (Belastung) parallel geprüft

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Voll- oder halbautomatische Schubladenstationen mit austauschbarem Prüfadapter für verschiedene Bauteile, Markierung und Gut-/Schlecht-Unterscheidung.

Diode

Z-Dioden / Hochspannungsdioden / ULLD / ARD ...

FET

Si / SiC / GaN

IGBT

Silizium (Si)

Brücken / Module

Halbbrücke, Vollbrücke und Gleichrichter

Die (KGD)

Si / SiC / GaN

Technische Details

Dies sind unsere Standardspezifikationen. Wir bieten kundenspezifische Anpassungen, um Ihre genauen Testanforderungen zu erfüllen.

Bereich Auflösung

Spannung

200 mV 6,7 µV

2 V / 5 V 66,7 µV / 166,7 µV

100 V 3,3 mV

1000 V / 3000 V 33,3 mV / 100 mV

Strom

100 nA 3,3 pA

10 µA 333,3 pA

200 µA / 1 mA 6,7 nA / 33,3 nA

100 mA / 200 mA 3,3 µA / 6,7 µA

20 A / 200 A 6,67 mA / 6,7 mA

200 A / 1000 A 6,7 mA / 33,3 mA

Leistungspulse

5 / 80 V up to 1000 A @ 500 µs to 1s

Abtastzeit

10 µs

Gate-Spannung

0 V to ±30 V

Software

Bediensoftware

Steuert die Tester-Hardware (SMUs) Lädt die Messprogramme Führt den Messprozess aus Verwaltet weitere Anwendungen, z. B. die integrierte Oszilloskop-Funktion

Modul-Messprogramm-Editor

Messprogramme lassen sich einfach ändern und sind zwischen Testern kompatibel und austauschbar. Ein vollständiger Satz an Messprogrammen wird mit jedem Testern ausgeliefert.

Integriertes Oszilloskop

Anzeige der Messdaten mit Zoom- und Bearbeitungsfunktion für eine ideale Analyse der Messdaten.

Datenmanagement & Rückverfolgbarkeit

Vollständige Rückverfolgbarkeit jedes Prüflings Flexible Datenexportfunktionen Kundenspezifische Datenbankschemata Integration in bestehende Kundendatenbanken