Dynamic Tester

Individuel für jeden Kunden

Sehr geringe Induktivität

Leicht austauschbare Messeinheit

Unsere hochpräzisen, flexiblen und induktivitätsarmen dynamischen Tester mit schnell austauschbarer Messeinheit

Der dynamische Tester prüft bei jedem Messpuls ob die Spannungs-, Strom- und Leistungswerte eingehalten werden und meldet jeden Fehler sofort.

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Measuring Unit

DUT-spezifische Anbindung mit kundenspezifischem DC-Link zur Minimierung der ESL sowie einer individuellen Gate-Treiberstufe.

Die Messeinheit hat eine geringe Streuinduktivität und hält das Bauteil während des Schaltens unter realer Belastung.

Die gesamte Einheit kann für andere Bauteile oder zu Wartungszwecken schnell ausgetauscht werden.

RBSOA-Doppelpulstest

SCSOA-Kurzschlusstest

Flexible Gate-Spannung

Umschaltbare Gate-Widerstände

Pulse >1 µs im 25 ns Raster

FET

Si / SiC / GaN

IGBT

Silizium (Si)

Brücken / Module

Halbbrücke, Vollbrücke und Gleichrichter

Die (KGD)

Si / SiC / GaN

Technische Details

Dies sind unsere Standardspezifikationen. Wir bieten kundenspezifische Anpassungen, um Ihre genauen Testanforderungen zu erfüllen.

Bereich

Max. Spannung

up to 2000 V

Max. Strom

up to 20,000 A

Gate-Spannung Ein/Aus

0 V to ±30 V

Pulslänge

1 µs - 500 µs (resolution: 25 ns steps)

Software

Bediensoftware

Steuert die Tester-Hardware (SMUs) Lädt die Messprogramme Führt den Messprozess aus Verwaltet weitere Anwendungen, z. B. die integrierte Oszilloskop-Funktion

Modul-Messprogramm-Editor

Messprogramme lassen sich einfach ändern und sind zwischen Testern kompatibel und austauschbar. Ein vollständiger Satz an Messprogrammen wird mit jedem Testern ausgeliefert.

Integriertes Oszilloskop

Anzeige der Messdaten mit Zoom- und Bearbeitungsfunktion für eine ideale Analyse der Messdaten.

Datenmanagement & Rückverfolgbarkeit

Vollständige Rückverfolgbarkeit jedes Prüflings Flexible Datenexportfunktionen Kundenspezifische Datenbankschemata Integration in bestehende Kundendatenbanken