Unsere hochpräzisen, flexiblen individuellen Lösungen eignen sich sowohl für den Laborbetrieb als auch für die Serienproduktion mit hohen Stückzahlen.
Jedes individuelle System wird exakt nach Ihren Spezifikationen konstruiert – Spannungsbereiche, Stromstärken, Bauteiltypen und Produktionsdurchsatz – inklusive vollständigem Lifecycle-Support.
ZTH-Tester
Ein ZTH-System für die Fertigung kleiner Stückzahlen bei 150 A, das alle Parameter eines FET oder FET-Moduls misst.
Kontaktprüfung, BVDSS, IDSS / DIDSS mit Kompensation, IGSS / DIGSS, VGSTH, RDSON, ZTH und ZTH-Schleife, C und R, inklusive einer manuellen Kontaktierstation.
HTRB-Tester
High-Temperature-Reverse-Bias-Prüfung für bis zu 4 DUTs bei ± 6500 V und 200 °C.
Läuft 72 h unabhängig vom PC, mit Hochspannungsversorgungen, vier Temperaturreglern, getrennter Heizung und Kühlung pro DUT sowie einem eigenen Sicherheitssystem.
HTOL-Tester
High-Temperature-Operating-Life-Prüfung nach JEDEC-Standards über 100–1000 h.
Bis zu 80 DUTs in einer Heizkammer bis 260 °C, mit Hochleistungsversorgungen, einem Oszilloskop, einem Multiplexer zur Spannungsmessung und Strombegrenzung pro DUT.
Thermowechsel-Dioden-Tester
Belastungstest von Gleichrichterdioden mit Hochstrompulsen bis 200 A bei gleichzeitiger Überwachung der Durchlassspannung zur Bestimmung der Sperrschichttemperatur.
16 unabhängige Positionen laufen über 500 Stunden, mit programmierbaren Zyklusmustern und produktspezifischen Kontaktiereinheiten.
und viele mehr …
gemäß Ihren Anforderungen.
Diode
Z-Dioden / Hochspannungsdioden / ULLD / ARD ...
FET
Si / SiC / GaN
IGBT
Silizium (Si)
Brücken / Module
Halbbrücke, Vollbrücke und Gleichrichter
Die (KGD)
Si / SiC / GaN
Lifecycle services
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